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  • CMI150涂层测厚仪

    涂层测厚仪:牛津仪器CMI150:亦称CMI153,是一款便携式两用型涂层测厚仪,可进行磁感应和电涡流测量自动选择。可测量钢铁底材上的非磁性涂镀层和有色金属的非导电涂层。自动检测有色金属和钢铁底材。

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  • CM95铜箔测厚仪厂家

    铜箔测厚仪:是一款电池供电、手持式测量铜箔厚度的测厚仪。能够在一秒钟内测量印刷电路板上的铜箔厚度,测量时只需将仪器的超软接触式探针放到铜箔表面就可以看到铜箔厚度指示。工厂调校,不需标准片,设有低电量警告,CE认证。测量范围:1/8--4.0盎司/平方英尺(5--140μm)。

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  • CM95牛津铜箔测厚仪

    铜箔测厚仪:是一款电池供电、手持式测量铜箔厚度的测厚仪。能够在一秒钟内测量印刷电路板上的铜箔厚度,测量时只需将仪器的超软接触式探针放到铜箔表面就可以看到铜箔厚度指示。工厂调校,不需标准片,设有低电量警告,CE认证。测量范围:1/8--4.0盎司/平方英尺(5--140μm)。

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  • CM95铜箔测厚仪

    铜箔测厚仪:是一款电池供电、手持式测量铜箔厚度的测厚仪。能够在一秒钟内测量印刷电路板上的铜箔厚度,测量时只需将仪器的超软接触式探针放到铜箔表面就可以看到铜箔厚度指示。工厂调校,不需标准片,设有低电量警告,CE认证。测量范围:1/8--4.0盎司/平方英尺(5--140μm)。

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  • X-Strata920系列 X荧光镀层测厚仪

    X射线荧光分析仪X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。

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  • X荧光镀层测厚仪 X-Strata920系列

    X射线荧光分析仪X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。

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  • X-MET-5000系列手持式合金分析 手持式合金分析价格

    合金分析广泛应用于元器件、玩具、消費性電子產品有害物元素分析、金屬廢料回收、合金分类鉴定、矿石分析、土壤分析等。

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  • X-MET-5000系列 手持式合金分析

    合金分析广泛应用于元器件、玩具、消費性電子產品有害物元素分析、金屬廢料回收、合金分类鉴定、矿石分析、土壤分析等。

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  • CM95覆铜板铜箔测厚仪 覆铜板铜箔测厚仪价格

    覆铜板铜箔测厚仪产品由工厂调校,不需要任何标准片。它使用方便,只需将产品独有的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。

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  • CM95覆铜板铜箔测厚仪

    覆铜板铜箔测厚仪产品由工厂调校,不需要任何标准片。它使用方便,只需将产品独有的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。

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  • 覆铜板铜箔测厚仪CM95

    覆铜板铜箔测厚仪产品由工厂调校,不需要任何标准片。它使用方便,只需将产品独有的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。

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  • CMI165便携式线路板面铜测厚仪

    便携式线路板面铜测厚仪是一款人性化设计、坚固耐用的世界首款带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。一直以来,面铜测量的结果往往受到样品温度的影响。

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  • 便携式线路板面铜测厚仪CMI165

    便携式线路板面铜测厚仪是一款人性化设计、坚固耐用的世界首款带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。一直以来,面铜测量的结果往往受到样品温度的影响。

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  • 便携式线路板孔铜测厚仪CMI500

    CMI500便携式线路板孔铜测厚仪独有的温度补偿特性使其适用于在电镀过程中进行厚度测量,从而降低废料、返工成本。和我们的所有产品一样,CM500在售前和售后都能够得到牛津仪器的优质服务的保证。

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  • CMI700 线路板孔铜/面铜 测厚仪CMI700

    CMI760测厚仪可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI700台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性,对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。同时CMI760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。

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  • 线路板孔铜/面铜 测厚仪CMI700

    CMI760测厚仪可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI700台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性,对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。同时CMI760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。

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  • 膜厚测试仪 膜厚测试仪价格

    膜厚测试仪,分为磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。

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  • X荧光镀层测厚仪 X荧镀层测厚仪价格

    CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

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